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                                                                          能量色散X射線熒光光譜儀的主要優點和被測量樣品的要求
                                                                        1. 發布日期:2022-07-19     信息來源:公司新聞      瀏覽次數:366
                                                                          •    能量色散X射線熒光光譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點,將來自試樣的熒光X射線依次檢測,得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖,經放大器放大后送到多道脈沖分析器。按脈沖幅度的大小分別統計脈沖數,脈沖幅度可以用X光子的能量標度,從而得到計數率隨光子能量變化的分布曲線。

                                                                             
                                                                              能量色散X射線熒光光譜儀的主要優點為:
                                                                              1.無損檢測,對分析樣品的形狀、大小和材料沒有特殊要求,被測樣品在測量前后,無論其化學成分、質量、形狀等都保持不變,且隨著技術的改進,具備了超大的真空樣品室,可滿足大樣品的無損分析。
                                                                             
                                                                              2.分析速度快,可以預篩選大量的樣品。一般情況下,檢測一個樣品中的諸元素只需幾分鐘。
                                                                             
                                                                              3.精度高,準確度好,相對分析極限可達百萬分之一級。
                                                                             
                                                                              4.自動化程度高。
                                                                             
                                                                              5.探測束斑可調節,可以滿足微區分析。
                                                                             
                                                                              能量色散X射線熒光光譜儀被測量樣品的要求:
                                                                              由于技術特點的差異,需要對被測儀量樣品進行簡單的處理;對固體樣品的一般處理方法是將被測量樣品表面打磨光滑,對粉末和其他樣品可以采用磨細后進行粉末壓片法處理,相應的設備市場上很容易找到。
                                                                             
                                                                              優勢在于:可以對樣品不作特別復雜的處理而直接進行測量,對樣品也沒有任何損壞,適合直接用于生產的過程控制中;
                                                                             
                                                                              但需要強調指出的是:從熒光理論上,被測量樣品的預先處理是必須的,對于儀器來說,可以采取一些技術手段進行校正來滿足實際生產控制的需要,但即使采用了技術校正的手段,對不規則樣品的直接測量也是以犧牲測量準確度作為代價的。

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